大家好，原子力显微镜的静电力显微镜（EFM）和开尔文探针力显微镜（KPFM）功能上线，即日起至25年6月底试运行。试运行期间价格为500元/样（院内5折），欢迎有需要的用户咨询与预约，联系人：黄楚云（18857667099），预约方式：浙江大学衢州研究院仪器共享系统-原子力显微镜-委托预约选择对应测试项目。
静电力显微镜（EFM）功能与应用：
静电力显微镜（Electrostatic Force Microscopy，EFM）静电力显微镜是一种用于测量成像样品表面的电静力特性的扫描探针显微镜。EFM通过探针与样品表面之间的静电力相互作用，获取表面电荷分布和电势信息。
EFM广泛应用于材料科学、电子学和纳米技术等领域，
常见的应用包括：
l 电荷分布：测量和成像材料表面的电荷分布。
l 表面电势：研究材料表面的电势分布和电特性。
l 半导体器件：分析半导体器件中的电特性和缺陷。
l 纳米电子学：研究纳米级电子器件的电性能。
开尔文探针力显微镜（KPFM）功能与应用：
开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。
KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。
常见的应用包括：
l 表面电势分布：测量和成像材料表面的局部电势分布。
l 功函数测量：研究材料的功函数变化，特别是对于不同材料的界面和缺陷。
l 半导体器件：分析半导体器件中的电势分布和电学特性。
l 有机电子学：研究有机半导体和有机电子器件的表面电势。
样品要求：样品需要导电或至少为半导体，样品表面需十分平整，粗糙度在10-200nm之间。
另外：力曲线测试、液体模块、扫描电容显微镜功能模块调试中，为确保更好的调试效果，即日起面向院内征集样品免费测试。（总共不超过15个，有意向的师生可直接联系黄楚云咨询)
新功能调试和试运行期间，其他常规测试照常开展。