资产编号: 360990063125815
仪器负责人: 申福星
主要配件: 1、X射线发生器 2、测角仪: 3、 光学狭缝系统一套 4、标准样品台: 5 、半导体阵列探测器 6、应用分析软件: 7、计算机系统: 8、内置水冷系统:
主要参数: 1、X射线发生器 1.1最大输出功率:600W 1.2 长寿命X光管,靶材为Cu 1.3管电压:20 ~ 40 kV / 1kV,电压可变 1.4管电流:2 ~ 15 mA/ 1mA,电流可变 1.5电子快门,双重连锁保护 2、测角仪: 2.1测角仪类型: 垂直测角仪,样品水平放置 2.2角度重现性:0.0005° 2.3最大扫描速度: 500°/min 2.4测角仪半径:150mm 2.5马达驱动:步进马达驱动 3、 光学狭缝系统一套 4、标准样品台: 4.1 样品填充部分尺寸:方形20mm×20mm 4.2 标准样品板材质:玻璃或铝 5 、半导体阵列探测器 5.1提高测试强度和测试速度: 100倍以上 5.2能量分辨率: ≤20% 5.3动态范围:≥108 cps 5.4探测器道数128个 5.5探测器活性面积:≥250mm2 5.6专用石墨单色器 6、应用分析软件: 应用分析软件包包括: (1)数据平滑、扣除背景、去除K2、寻峰、多峰分离、晶粒大小、多重记录、任务宏、文件历史记录和小图标、多种报告制作、2θ校正、d-I清单的图形模拟、3D多重显示、ICSD存储、晶体结构数据(CIF)的输入输出、3D晶体结构显示、RIR定量 (2)定性分析:综合检索匹配 (3)应用分析:晶粒大小和晶格应力(williamson-Hall法)、晶格常数精修、结晶度、应力、晶系和晶格常数的确定 7、计算机系统: 至少: Core 3.0GHz CPU,4GB内存,硬盘1T,27”显示器, DVD-RW可擦写光驱,激光打印机,OS为 Windows10。 8、内置水冷系统: 3.8.1内置散热系统,稳定性能好,具有过热保护系统。
功能应用:
X射线衍射仪作为一种材料结构分析设备,其广泛应用于晶体结构分析、物相定性定量分析、晶粒大小分析、结晶度分析、宏观和微观引力分析和择优取向分析。该设备是材料研究过程中的必备测试手段,适用于单晶、多晶、非晶和纳米等各类材料。